2-5 デバギングモデルと出生死滅過程(第16回年次大会)
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概要
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ロットに故障率の低いものと故障率の高いものが混在している場合には, バーンインなどにより故障率の高いものを故障させて, 不良の顕在化を行うことがある.このとき, バーンインによるデバギング時間の適切な決定、デバギング後の信頼性の保証などが問題になる.本発表では, これらの問題について出生死滅過程を用いて, 解析して得られた結果について報告する.
- 社団法人日本品質管理学会の論文
- 1987-01-15
著者
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