放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析(関東支部創立40周年紀念)
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概要
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放射光X線の集光光学系を作製し, 微小部での蛍光X線測定が可能な走査型X線顕微鏡を開発した.この顕微鏡により極微量の元素について蛍光X線法による定性, 定量分析が可能であるだけでなく, X線吸収端微細構造(XAFS)スペクトルから局所での化学状態に関する情報を得ることができる.本論文では作製した顕微鏡についてX線集光光学系, 検出限界, 微量不純物の状態分析への応用を取り上げるとともに, 放射光のエネルギー可変性を利用した蛍光X線定量分析法, 蛍光X線収量法でのXAFS測定における自己吸収効果についても取り上げる.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1996-02-05