論理LSIテスト容易化設計の一手法
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概要
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論理LSIの高集積化にともない、テストデータ作成期間の短縮や故障検出能力の向上をはかるために、テスト容易設計技術が重要となってきている。テスト容易化技法の代表的な例としてスキャン設計技法とアドホック技法がある。しかし、これらの技法は、テスト用論理の付加による論理オーバヘッドや、テスト用入出力ピンの追加によるピン数の増加があるため、適用し難い場合がある。本稿では、 アドホック技法に改良を加えたテスト容易化の一手法とその適用結果について述べる。
- 1989-10-16