BiCMOS回路認識方式に対する一考察

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概要

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VLSI設計において、要求仕様が達成されているか否かをいかに検証するかがチップ品質を決定している。従来、設計検証は各種の方法がとられているが、レイアウト検証による方法が精度も良く、研究も盛んである。しかし、例えばレイアウトパターンから回路シミュレーションデータを抽出する検証システムにおいて、結果として得られるデータの理解し易さという面では、必ずしもヒューマンインターフェースを充分考慮しているとは言えなかった。本論文では、図1に示すシステムにおいて、CMOS及びBiCMOS回路を対象として、設計したもとの回路と抽出されたデータを容易に比較・照合可能とする回路認識方式について述べる。
一般社団法人情報処理学会の論文
1989-03-15

著者

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