論理シミュレータBINALYにおけるテストパターン切り出し機能
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概要
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ロジックLSI設計においては、シミュレーションおよびテスタで使用するテストパターン作成の工数が大きくこれが設計TAT短縮のボトルネックの1つとなっている。弊社の論理シミュレータBINALYには、シミュレーション結果を利用して、テストパターンを作成する機能(テストパターンの切り出し機能)があり、設計TATの短縮に効果を上げている。本稿では、このテストパターン切り出し機能について述べる。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1988-09-12
著者
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