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Defects and Characterization(<特集1>ICVGE-7(第7回気相成長・エピタキシー国際会議))
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概要
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日本結晶成長学会の論文
1992-03-15
著者
室谷 利夫
三菱電機光波研
関連論文
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Si,Ge基板上のGaAs成長層の評価
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