23pA4 合成フォルステライトの格子欠陥(バルク成長V)
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概要
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Forsterite (Mg_2SiO_4) single crystals containing 0-0.1wt% Cr were grown by the Czochralski method. Defect structures were investigated by X-ray topography. Dislocation density was high at center region.
- 日本結晶成長学会の論文
- 1999-07-01
著者
-
安斎 裕
三井金属鉱業株式会社総合研究所:(現)(株)オキサイド
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安斎 裕
三井金属総研
-
山崎 貴史
三井金属総研
-
山岸 喜代志
三井金属総合研究所
-
山岸 喜代志
三井金属鉱業(株)総合研究所
-
山崎 貴史
三井金属鉱業株式会社総合研究所:(現)日本結晶光学株式会社
-
山崎 貴史
三井金属鉱業(株)総合研究所
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