論理回路のテスト生成のための3値ニューラルネットワークモデル
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概要
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ニューラルネットワークを用いた組合せ回路のテスト生成法が,Chakradharらによって提案されている.それによると,テスト生成の問題は最適化問題に形式化され,ニューロンが0,1の離散的な値をとる2値ホップフィールド型ニューラルネットワークによって解くことが可能であることが示された.しかし,順序回路に対するテスト系列を生成するためには,0,1のほかにX (ドントケア)を含めた3値が必要である.本論文では,2値ニューラルネットワークモデルを拡張し,(V^0,V^X,V^1)の3つの値をとる3値ニューラルネットワークの一般的なモデルおよび3値に対応したボルツマンマシンを拡張したモデル等を示し,それらを用いたテスト生成問題への応用を提案する.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1992-04-15