外部イベント駆動型システムの試験系列生成手法

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概要

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本稿では,決定性有限状態機械でモデル化される外部イベント駆動型システムの動作仕様から,各状態遷移の存在およびその遷移先状態の確認を含む,試験実施コストの少ない試験系列を生成する手法を提案する.試験実施コストとしては,試験実施時間,または系列長のいずれかを用いることができる.状態確認系列はUIO系列(Unigue Input/Output sequence)を用いる.本手法は,i)各状態の最小コストのUIO系列,およびii)各状態間の最小コストのUIO経路を用いて試験系列を重ねることにより,試験実施コストを減少させることを特徴とする.いくつかの例題に適用して本手法およびUIO系列を用いた従来手法の評価を行った結果,本手法は,一般に従来手法よりもコストの少ない試験系列を生成することが明らかになった.
一般社団法人情報処理学会の論文
1995-06-15

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