アボガドロ定数決定のためのシリコン結晶の密度の絶対測定 : 招待講演
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概要
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A determination of the Avogadro constant NA by the X-ray crystal density (XRCD) method is described, where the density p of silicon crystals has been determined with a relative uncertainty of 1.1×10^<-7> by the interferometric measurements of the diameters of 1-kg silicon spheres. Recent results on the molar volume M/p of silicon crystals suggest that a large number of microscopic defects are contained in the crystals.
- 日本結晶成長学会の論文
- 1998-07-01
著者
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根津 嘉明
通商産業省工業技術院計量研究所
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根津 嘉明
工業技術院計量研究所
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田中 充
計量研究所
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田中 充
計量研
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藤井 賢一
計量研究所
-
藤井 賢一
工業技術院計量研究所
-
田中 充
工業技術院計量研究所
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