表面ラフニング転移温度の新しい評価法 : ステップゆらぎ解析 : 成長界面II

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概要

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• 日本結晶成長学会の論文
• 1995-07-10

著者

• 阿久津 典子

  大阪電通大工

• 山本 隆夫

  群馬大工

• 阿久津 泰弘

  阪大理

• 阿久津 典子

  大阪電通大大学院総合電子工学専攻

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