電子線回折における平均内部ポテンシャルの補正 : X線・粒子線
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1969-03-30
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- L. C. Feldman and J. W. Mayer: Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, North-Holland, New York and Amsterdam, 1986, xx+354ページ, 23.5×16cm, $47.50.
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