28p-Q-9 イオン散乱分光法による(Bi, Sb)/Si(111)表面の構造解析

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1999-03-15

著者

• 柚原 淳司

  名大工

• 森田 健治

  名大工

• 森田 健治

  名城大

• 松田 克士

  名大工

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