28a-ZB-1 イオンシンニングで薄くしたBi-Mn逐次蒸着厚膜の電顕観察 III
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1992-03-12
著者
関連論文
- 315 培養子宮筋腫細胞におけるIGF-I, IGF-I receptor及びIGF binding protein-3mRNA発現に及ぼす性ステロイドの影響
- 4p-M-4 Mn-Bi同時蒸着膜準安定相の結晶構造II : マルチスライス法シミュレーションの手法
- 4p-M-3 Mn-Bi同時蒸着膜準安定相の結晶構造I : 高分解能電顕観察
- 13p-T-12 Mn-Bi同時蒸着膜結晶化の問題点
- On the Principle of Duality between Direct Lattice Space and Reciprocal Lattice Space : its application to the investigation of electron diffraction patterns
- Ellipsometry, its Operational Principle and a few Examples of Performance
- 4a-B-8 MnAl(r)相のmicrostructure
- Calculation of Diffuse Diffraction by δ(Mn-Al) type One-Dimensionally Disorderd Crystal (2) : An elementary treatment taking into account of the swaying of the basic axis
- Calculation of Diffuse Diffraction by δ(Mn-Al) type One-Dimensionally Disorderd Crystal (1) : Simplified case where the swaying of the second axis is neglected
- 4a-TG-4 MnAl(r)相の構造(I)
- 1a-TG-7 δ(Mn-Ae)型層状不整格子の回折強度式
- Application of the Electron-Diffractometer Attachment to Radial Distribution Analysis of Carbon Film
- AN IMPROVEMENT OF INTENSITY PROFILE RECORD IN THE ELECTRON-DIFFRACTOMETER BY OPTICAL MEANS
- 5a-E-8 Mn-Al同時蒸着膜の結晶化(II) : Mn36at.%
- A Simple Electron-Diffractometer Attachment to Electron Microscope
- Mn-Al同時蒸着膜の結晶化(Mn〜40at%) : X線・粒子線
- Electron Diffraction Investigation of Vacuum Deposited Manganese Films
- マンガンの眞空蒸着膜の構造 : 表面物理・薄膜
- 13-40.子宮動脈塞栓術が無効であった子宮動静脈奇形に対するダナゾール療法の試み(第65群 妊娠・分娩・産褥期17)(一般講演)
- 28p-A-11 回転対陰極超高真空表面X線回折装置と結晶成長表面の評価
- 微小角X線散乱によるPbSe(111)成長表面の評価
- 31p-PSB-44 超高真空中での多結晶金属表面の微小角X線散乱による評価
- 29p-P-9 回転対陰極X線源を使った超高真空表面X線回折装置の製作^+
- 5a-X-10 回転対陰極形X線源を使った超高真空表面X線回折装置の設計
- 29p-PSB-22 X線微小角散乱による多結晶銀表面のあらさ評価
- 30a-ZB-3 実格子と逆格子の双対性 : カーテシャン座標系 の回折図形解析への導入
- 28p-S-4 Fe〜Zn合金系Γ(キャピタル・ガンマ)相の真空蒸発による作製と透過電子顕微鏡観察
- 28a-ZB-2 Bi〜Mn長周期正方晶の結晶構造モデルとその空間群
- 28a-ZB-1 イオンシンニングで薄くしたBi-Mn逐次蒸着厚膜の電顕観察 III
- COMPOSITION DETERMINATION OF VACUUM CO-DEPOSITED Mn-Bi FILMS BY THE EDS OF ELECTRON MICROSCOPE
- 30p-L-1 Bi-Mn長周期正方晶の逆格子の確認と空間群の探索
- 24p-Q-3 Bi〜Mn長周期正方晶の結晶構造解析の試み
- 24a-Q-4 イオンシンニングで薄くしたMn-Bi逐次蒸着厚膜の電顕観察II
- 2a-TA-4 イオンシンニングで薄くしたMn-Bi逐次蒸着膜の電顕観察
- 2a-TA-3 Bi〜Mn二重膜長周期正方晶結晶構造の、シグマ相としての解釈
- 30a-TJ-2 Bi〜Mn極薄二重膜長周期正方晶とσ-phaseとの関連
- 30a-TJ-1 同時蒸着Mn-Bi薄膜(30〜50at%Mn)に現われる新合金相の高分解能電子顕微鏡像による原子配列モデルの検討
- USE OF CARTESIAN CO-ORDINATE SYSTEMS, , IN THE MULTI-SLICE SIMULATION PROGRAM FOR HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY
- 6a-W-12 同時蒸着Mn〜Bi(30〜50at%Mn)に現われる新合金相の空間群と原子配列
- 6a-W-11 Bi〜Mn極薄二重膜にあらわれる長周期正方晶のパターソン変換.
- 2元合金の真空同時蒸着法と逐次蒸着法--Bi-Mn系合金膜の場合
- 29a-A-12 同時蒸着Mn-Bi薄膜(約50at%Mn)の電顕観察III
- Further Investigation of the Basic Structure of Metastable Mn3Bi by High Resolution Electron Microscopy and Its Computer Simulation
- 30a-H-7 同時蒸着Mn-Bi薄膜(50at%Mn)の電顕観察
- 電子顕微鏡試料用イオンシンニング装置の試作と薄片化の実行
- 25p-K-9 直交単位ペクトル座標による実格子、逆格子 両空間の表現
- 6a-B5-9 Bi-Mn極薄二重膜にあらわれる長周期正方晶の、三次元逆格子の導出
- 6a-B5-8 Mn-Bi(50at%Mn)同時蒸着膜に現われる新合金相
- Channel Mixing Effect on SN-Ratio of Electron Energy Loss Spectrum in Parallel Detector
- Position Control of Electron Energy Loss Spectrum in Case of Accelerating-Voltage Fluctuation
- 30p-XJ-5 微小角入射X線散乱による真空中の純鉄表面の粗さ変化の観察
- 27p-K-14 真空中の純鉄表面の微小角入射X線散乱による構造変化の観察
- 29a-B-10 Bi-Mn新合金相の電顕による結晶構造解析II : 修正されたシグマ相構造
- 3a-X-8 Bi-Mn二元合金系新合金相(長周期正方晶)の電子顕微鏡による結晶構造解析
- 30p-YC-9 Bi-Mn長周期正方晶の電顕による原子配列決定の試み2
- 5a-X-9 Bi-Mn長周期正方晶の電顕による原子配列決定の試み
- MnAl6相を中心とするMn-Al同時蒸着膜の結晶化
- 6a-P-1 長石の電子回折の解析例
- Constitution of Feldspars in Some Granites of Mt. Rokko Determined by The Electron Probe X-Ray Microanalyser
- 28a-P-3 電子ビーム蒸着法によるBi〜Mn新合金相の作成と電子顕微鏡による結晶構造解析
- Preparation of Γ (Fe-Zn) thin film and its HREM observations
- 3a-N-1 高分解能電顕法によるMn-Bi準安定新結晶、構造解析の精密化II
- 2p-N-13 Bi-Mn二重膜の接合面で生づる、新長周期合金相
- 非結晶性Mn-Bi薄膜に成長する準安定結晶の原子配列 : 薄膜成長
- Corrections in Quantitative Analysis of Feldspars at Mt. Rokko Performed by an Electron Probe X-ray Microanalyser
- 29a-P-1 アモルファスMn-Bi薄膜の結晶化にあらわれる合金相の検討
- Discharge Characteristics and Improvements in a Cold Cathode Ion Gun for the Sputter-Etching
- 2a GK-2 Vapour Quenchingで得られるMn-Bi系合金相
- Sputter-Etching : Its Apparatuses and Applications to the Preparations of Thin Specimens for Transmission Electron Microscopy
- スパッターエッチング 装置と電子顕微鏡試料作製への応用
- タイトル無し