2a-RJ-7 Ni-Cu合金における表面偏析の研究
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1984-03-12
著者
関連論文
- 11p-A-11 FIM・atom-probeの開発II
- 2p-D-7 FIMアトムプローブの開発とその表面偏析への応用
- 半導体表面における水素吸着
- 3p-RJ-3 Atom-probeによるGaAs及びGaP表面の研究
- 2a-E-4 atom-probeによるCu-Ni合金分析(II) : 表面偏析に対する雰囲気の影響
- Fe-Ti合金におけるTiの表面偏析
- 2a-E-3 atom-probeによるCu-Ni合金分析(I) : 真空中の表面偏析
- 2a-E-2 鉄中のsolute elementの表面偏析
- 2a-E-1 半導体-金属界面のatom-probe FIMによる分析
- 2a-RJ-7 Ni-Cu合金における表面偏析の研究
- 30a-D-1 SiC-メタル界面の微視的研究
- 1p-A6-8 Al-Agの準安定相のアトム=プローブ分析(1p A6 結晶成長,結晶成長)
- 31p-BG-10 laser-pulsed atom-probe FIM(31p BG 表面・界面)
- 2p-A1-11 Wの電界蒸発に対するArガス衝撃の効果(2p A1 表面・界面,量子エレクトロニクス)