偏極2次電子を用いた磁性計測
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概要
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試料から放出される2次電子は, 試料表面数原子層の磁化を反映して偏極している. この現象を用いると, 強磁性体表面の高分解能磁区観察や非磁性体内部に誘起された微小磁化, 常磁性体表面に発現した強磁性等の検出が可能となる. 本報告ではわれわれのグループが開発したこの新しい磁性計測技術の最近の進展を紹介する.
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1997-07-05
著者
-
小池 和幸
北大理
-
松山 秀生
北大理
-
古川 貴司
日立 基礎研
-
小池 和幸
(株)日立製作所基礎研究所
-
松山 秀生
(株)日立製作所基礎研究所
-
古川 貴司
(株)日立製作所基礎研究所
-
孝橋 照夫
(株)日立製作所基礎研究所
-
孝橋 照夫
日立 中研
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