新しい高性能粒子スペクトログラフ
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概要
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カメラで鮮明な画像を得るには収差を小さくするために絞りをせばめる必要があり, それだけ明るさが低下する. すなわち, 解像力と明るさの間には一定の相反関係がある. 荷電粒子分析器も同様で分解能と粒子捕集立体角の積で定義される示性数figure of meritsは分析器固有のもので, 完成した分析器では自由に変えられない. また一般に大軌道半径の分析器ほど勝れた示***を持つものとされていた. 所が永年のこれらの定説は誤っていた. 事実, 四重極場などの多重極場を併用した混成型スペクトログラフでは, 定説に反して示性数を数十倍向上させることが出来るし, 設計条件によっては軌道半径が小さい程高分解能が得られるのである.
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1979-09-05
著者
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