20pXB-4 X 線イメージインテンシファイアを用いたコンプトン散乱測定用高エネルギー X 線スペクトロメータ

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2003-08-15

著者

• 伊藤 真義

  JASRI

• 櫻井 吉晴

  高輝度光科学研究センター

• 伊藤 真義

  高輝度光科学研究センター

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