3p-E3-13 H_2 d^3π_u状態の短寿命レベルの寿命測定
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1988-09-16
著者
関連論文
- 29pTB-5 ANDC法を用いた計測寿命からのカスケード効果の除去(29pTB 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 25pF-6 H_2およびD_2k^3Π_u状態の寿命測定
- 28a-L-4 H_2およびD_2e^3Σ^+_u状態の寿命測定
- H_2およびD_2のd^3Π_u-高振動状態の寿命測定(II)
- 1a-L-1 H_2およびD_2のe^3Σ_u^+状態の前期解離(原子・分子)
- 5p-N-8 D_2-d^3Π_u状態の寿命測定
- 3p-E3-13 H_2 d^3π_u状態の短寿命レベルの寿命測定
- 28a-G-11 Perturbationによる励起分子の寿命の変化
- 3a-WA-6 H_2d^3IIu状態の寿命測定
- 2a-KP-8 寿命測定による分子の無放射遷移の研究
- 11a-J-4 N_2^+C^2Zn^+状態の寿命測定
- 2a-M-11 しきいエネルギー電子による励起状態の寿命測定
- 2p-B-1 N_2およびN^+_2の励起状態の寿命の測定
- 1a GS-11 電子-光子遅延同時計数法による励起状態の寿命の測定
- 27aXN-9 水素分子f^3Σ_uおよびe^3Σ_u状態の寿命測定と非断熱相互作用の影響(原子・分子)(領域1)
- 工学部の基礎数学教育の一つの試み : 基礎数理
- 31a-F-5 水素分子の Perturbed State からの発光強度分布における干渉効果