2D101 AFMによるPI-LB膜の表面観察とアンカリング強度の評価
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概要
著者
-
小林 駿介
東京農工大学工学部電子情報工学科
-
徐 大植
東京農工大・工
-
吉田 典弘
東芝
-
松田 英明
農工大
-
小林 駿介
東京農工大・工
-
松田 英明
東京農工大学工学部電子情報工学科
-
吉田 典弘
東京農工大・工
-
プッター ペットバイシー
東京農工大・工
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