1D111 偏光顕微鏡によるラビング処理配向膜の表面観察

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概要

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• 日本液晶学会の論文
• 1992-09-11

著者

• 置田 雄二

  鳥取三洋電機

• 置田 雄二

  三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 玉岡 英二

  三洋電機(株)・半導体研究所

• 大今 進

  三洋電機(株)・半導体研究所

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