Gated-Four-Probe法によるショットキーコンタクトa-Si TFTのコンタクト抵抗変化の解明

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概要

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• 九州大学の論文

著者

• 服部 励治

  九州大学大学院システム情報科学府

• 土屋 隆介

  九州大学大大学院システム情報科学研究科

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