<論文>歯科用X線スペクトル測定におけるSi(Li)検出器の利用

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ここではもっとも普通に使用されている70kVpにおける測定のみを例に挙げたが，筆者らはすでに100kVp以下のそれ以外の管電圧での測定を行っており，100keV以下のX線スペクトルを可能な限り高い精度で測定するという所期の目的をほぼ達成できた。しかしまだいくらかの検討の余地を残している。1．主増幅器におけるパイルアップを減少させるために，0.8μSという短い時定数に設定したが，その結果エネルギー分解能は悪くなった。通常の状態では時定数3.2μSの場合1.4keVなる分解能が得られている。したがって高い計数率のもとで分解能を悪化させずにスペクトル測定を行なうには,短い時定数でも分解能が悪化しないタイムバリアントフィルター増幅器7)がよいと思われる。入射ビームがバンチされているX線の場合，このことはとりわけ重要である。2．この実験では補正の際に効率のみを考慮しているため，とくに効率を正確に求めることが要求される。この点20keV以下の光子の吸収の割合がかなり大きいこと，また13keV以下の検出効率が得られなかったことなど入射窓による吸収の問題が残されている。容易に入手できたという理由で真空槽の入射窓には1mm厚のベリリウムを用いたが，低エネルギー部のスペクトルをより正確に観測するには，もっと薄い0.25mm厚程度1-3)の窓を用いなければならないと考えられる。
九州大学の論文
1976-03-10

<論文>歯科用X線スペクトル測定におけるSi(Li)検出器の利用

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