2枚のスペックルパターンのみを用いた高分解能電子スペックル干渉計測法
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概要
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- 応用物理学会分科会日本光学会の論文
- 2012-02-10
著者
-
新井 泰彦
関西大学システム理工学部機械工学科
-
横関 俊介
常光応用光学研究所
-
井上 拓也
関西大学システム理工学部機械工学科
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新井 泰彦
関西大
-
荒井 義和
関西大学システム理工学部機械工学科
-
新井 泰彦
関西大学システム理工学部
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