Ionoluminescence as Sensor of Structural Disorder in Crystalline SiO_2 : Determination of Amorphization Threshold by Swift Heavy Ions
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概要
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- Japan Society of Applied Physicsの論文
- 2012-01-25
著者
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Jimenez-rey David
Centro De Microanalisis De Materiales (cmam) Universidad Autonoma De Madrid (uam)
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PENA-RODRIGUEZ Ovidio
Centro de Microanalisis de Materiales (CMAM), Universidad Autonoma de Madrid (UAM)
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MANZANO-SANTAMARIA Javier
Centro de Microanalisis de Materiales (CMAM), Universidad Autonoma de Madrid (UAM)
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OLIVARES Jose
Centro de Microanalisis de Materiales (CMAM), Universidad Autonoma de Madrid (UAM)
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MUNOZ Angel
Centro de Microanalisis de Materiales (CMAM), Universidad Autonoma de Madrid (UAM)
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RIVERA Antonio
I. de Fusion Nuclear, Universidad Politecnica de Madrid
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AGULLO-LOPEZ Fernando
Centro de Microanalisis de Materiales (CMAM), Universidad Autonoma de Madrid (UAM)
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Olivares Jose
Centro De Microanalisis De Materiales (cmam) Universidad Autonoma De Madrid (uam)
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Rivera Antonio
I. De Fusion Nuclear Universidad Politecnica De Madrid
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Agullo-lopez Fernando
Centro De Microanalisis De Materiales (cmam) Universidad Autonoma De Madrid (uam)
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Pena-rodriguez Ovidio
Centro De Microanalisis De Materiales (cmam) Universidad Autonoma De Madrid (uam)
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Manzano-santamaria Javier
Centro De Microanalisis De Materiales (cmam) Universidad Autonoma De Madrid (uam)
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Munoz Angel
Centro De Microanalisis De Materiales (cmam) Universidad Autonoma De Madrid (uam)