中性子反射率測定による表面界面構造解析の基礎
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本アイソトープ協会の論文
- 2010-11-15
著者
関連論文
- 中性子反射率による磁性多層膜の磁気構造評価
- 中性子反射率による磁性多層膜の磁気構造評価
- 中性子反射率によるGMR膜の磁気モーメント評価
- 中性子散乱による磁性材料の研究
- 中性子反射率測定による表面界面構造解析の基礎
- 中性子反射率法による薄膜の界面構造解析
- 25pCL-10 試料垂直型偏極中性子反射率計「写楽」(BL17)の現状(25pCL X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 20aAG-4 J-PARC偏極中性子反射率計の開発(IV)(20aAG X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 26aXZB-7 J-PARC偏極中性子反射率計の現状と展望I(26aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 26aXZB-7 J-PARC偏極中性子反射率計の現状と展望I(26aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(中性子),ビーム物理領域)