全電子収量軟X線吸収測定における試料成分間の全電子収量比

概要

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試料電流を計測する全電子収量軟X線吸収測定において，定量分析の観点から混合試料の組成比と全電子収量（TEY）との相関を明らかにすることを目的として，sp2炭素（カーボンブラック粉末）とsp3炭素（ダイヤモンド粉末）を成分とする混合試料のCK端全電子収量吸収スペクトル（TEY-XAS）と，ホウ素粉末と炭素（カーボンブラック粉末）を成分とする混合試料のBK〜CK領域TEY-XASを測定した．放射光を用いたTEY-XAS測定はAdvanced Light Source（ALS）で行った．その結果，カーボンブラックに対するダイヤモンドのTEY比は0.12で，ホウ素に対するカーボンブラックのTEY比は0.32であり，成分間でTEY比が異なることが分かった．また，このTEY比を考慮すれば，混合試料のTEY-XASは成分ごとのスペクトルの和で表すことができることを確認した．これより，各成分のTEYを適切に補正すれば，TEY-XAS測定から混合試料の組成・定量分析が可能であることを示唆した．
2010-06-05