産業用高エネルギーX線CT装置へのCdTe化合物半導体センサの適用

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概要

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• 日本非破壊検査協会の論文
• 2008-10-01

著者

• 高木 寛之

  (株)日立製作所 電力グループ 日立事業所

• 上村 博

  (株)日立製作所 電開研

• 上村 博

  (株)日立製作所 電力グループ エネルギー・環境システム研究所

• 額賀 淳

  (株)日立製作所 電力グループ エネルギー・環境システム研究所

• 額賀 淳

  (株)日立製作所

• 上村 博

  (株)日立製作所

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