シリコン半導体検出器を用いた450kV X線CT装置

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概要

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• 日本非破壊検査協会の論文
• 2007-02-01

著者

• 北澤 聡

  (株)日立製作所電力システム社エネルギー・環境システム研究所

• 上村 博

  (株)日立製作所 電開研

• 上村 博

  (株)日立製作所 電力グループ エネルギー・環境システム研究所

• 額賀 淳

  (株)日立製作所 電力グループ エネルギー・環境システム研究所

• 額賀 淳

  (株)日立製作所

• 上村 博

  (株)日立製作所

• 北澤 聡

  (株)日立製作所電力グループ

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