ポリベンゾオキサゾール/透明電極界面の光照射による接着強度の劣化評価
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概要
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- 2006-06-19
著者
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池田 修
ソニー株式会社 マテリアル研究所
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長谷川 匡俊
東邦大学理学部
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伊藤 文就
ソニー株式会社コアコンポーネント事業グループコアテクノロジー開発本部コロージョン解析センター
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長谷川 匡俊
Toho Univ. Chiba Jpn
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山浦 潔
ソニー株式会社 マテリアル研究所
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伊藤 文就
ソニー株式会社 マテリアル研究所
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池田 修
ソニー株式会社
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