Charge Trapping in SiO_x/ZrO_2 Gate Dielectric Stacks

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概要

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• 2000-08-28

著者

• HEYNS M.

  IMEC

• Houssa M.

  Department Of Physics Katholieke Universiteit Leuven

• NAILI M.

  IMEC

• STESMANS A.

  Department of Physics, Katholieke Universiteit Leuven

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