曲げ歪印加時のNb_3Sn素線の臨界電流およびn値の数値解析・評価
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概要
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- 2005-11-21
著者
-
植田 浩史
早大
-
村上 陽之
原子力機構
-
植田 浩史
早稲田大学
-
石山 敦士
早稲田大学
-
奥野 清
日本原子力研究所那珂研究所
-
小泉 徳潔
日本原子力研究所
-
村上 陽之
早稲田大学
-
広橋 雅元
早稲田大学
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