磁気ナイフ法によるYBCO超伝導線材・薄膜の臨界電流密度分布測定の誤差低減
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概要
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- 2005-05-31
著者
-
山田 穣
ISTEC-SRL名古屋
-
塩原 融
ISTEC-SRL東京
-
雨宮 尚之
京大
-
丸山 修
横浜国大・工
-
塩原 融
Istec
-
宮下 宗丈
横浜国大・工
-
丸山 修
Faculty of Engineering, Yokohama National University
-
宮下 宗丈
Faculty of Engineering, Yokohama National University
-
雨宮 尚之
Faculty of Engineering, Yokohama National University
-
斉藤 隆
Fujikura Ltd.
-
丸山 修
国際超電導産業技術研究センター
-
山田 穣
Istec-srl
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