ウァイブレーティングリード法によるY123薄膜の磁束ピン止め測定
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概要
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- 1999-11-10
著者
-
藤井 佳子
岡山理大・理
-
藤井 佳子
岡山理大
-
前田 実
物質・材料研究機構
-
鈴木 貴大
岡山理大・理
-
藤原 達道
岡山理科大学理学部応用物理学科
-
金 亨則
岡山理大・理
-
藤井 佳子
岡山理大. 理
-
鈴木 貴大
岡山理大. 理
-
金 亨則
岡山理大. 理
-
KOZLOWSKI Gregoly
Wright State University
-
藤原 達道
岡山理大. 理
-
前田 実
岡山理大. 理
-
重松 利信
阪大. 理
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