X線回折による有機超薄膜の構造評価
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2000-12-10
著者
関連論文
- X線異常散乱データに基づいた液体CuBrの有効2体ポテシャルの導出
- X線異常散乱法による溶融CuBrの部分構造の分離導出
- 4a-W-9 フォトンカウンティング法による氷単結晶からの回折強度のゆらぎの測定 : 交流電場による影響
- 22aWA-1 放射光 X 線磁気散乱実験のためのデジタル・ロックイン装置の開発
- X線異常散乱法及び小角散乱法による誘起共析型Ni-Mo合金めっき浴水溶液中の錯体構造の解明
- 微小角入射X線回折による薄膜評価
- X線回折による有機超薄膜の構造評価
- 実験室におけるX線極薄膜解析装置の開発
- 2a-N-13 Photon-counting distributionに対する数え落し補正
- フォトンカウンティング法による氷単結晶からの回折強度のゆらぎの測定