Quantitative diffractometry at 0.1 nm resolution for testing lenses and recording media of a high-voltage atomic resolution microscope
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概要
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- Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Pressの論文
- 1997-10-01
著者
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Phillipp F.
Max-planck研究所
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Phillipp F.
Max-planck-institut Fur Metallforschung
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MOBUS G.
Max-Planck-Institut fur Metallforschung
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GEMMING T.
Max-Planck-Institut fur Metallforschung
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SCHWEINFEST R.
Max-Planck-Institut fur Metallforschung
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Ruhle M.
Max-Planck-Institut fur Metallforschung
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