TiO_2(110)上のSiO_2薄膜の非線形光学効果
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概要
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We have measured SH intensity from SiO<SUB>2</SUB>/TiO<SUB>2</SUB> (110) and TiO<SUB>2</SUB> (110) for the photon energy from 2 <I>hω</I> = 3.65 eV to 4.68 eV. We have found that the SH intensity from SiO<SUB>2</SUB>/TiO<SUB>2</SUB> (110) is several times higher than that from TiO<SUB>2</SUB> (110) probably due to a resonance of some electronic level at the SiO<SUB>2</SUB>/TiO<SUB>2</SUB> (110) interface.
- 日本真空協会の論文
- 2002-03-20
著者
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