フルデジタル電子スキャン装置の開発
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2001-10-01
著者
-
菊地 修
日立エンジニアリング(株)
-
拵 美津男
日立エンジニアリング(株)ハードエンジニアリング部
-
北見 薫
日立エンジニアリング(株)ハードエンジニアリング部
-
拵 美津男
(株)日立エンジニアリング・アンド・サービス エンジニアリング本部 検査エンジニアリング部
-
北見 薫
(株)日立エンジニアリング・アンド・サービス エンジニアリング本部 検査エンジニアリング部
-
菊地 修
日立エンジニアリング
-
郷 俊匡
日立エンジニアリング(株)
関連論文
- 電子スキャン方式高速超音波解析装置
- 製品紹介 電子スキャン方式高速超音波解析装置--車載用半導体のインライン全数検査適用
- 黒鉛素材の全方位探傷用電子走査式アレイ型超音波探傷システムの開発
- カラー画像処理に基づくPT/MT用欠陥検出支援装置の開発
- フルデジタル電子スキャン装置の開発