粉末X線回折プロファイル関数の開発
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 基礎パラメータ法による粉末回折ピークのプロファイフィッティング
- バンドギャップ励起に基づく希土類賦活酸化物蛍光体の合成と発光特性
- ラマン分光法によるBaTiO_3ナノ粒子の誘電特性の評価
- 回折ピーク形状分析による粒度分布評価
- 検出器多連装型高分解能回折計を用いた放射光粉末回折測定の進展
- デコンボリューションによる粉末X線回折データからの装置収差の除去
- 粉末X線回折による結晶粒径評価
- 粉末X線回折プロファイル関数の開発
- 粉末X線回析パターンからのKα2線と装置収差の影響の除去
- 軌道放射光粉末回折測定における粒子統計の効果
- 検出システムの数え落しの影響を受けた観測強度データの統計的な性質
- 粉末回折ピーク形状の「尖り度」を特徴づける新しいパラメータ
- 検出器多連装型高分解能軌道放射光粉末回折計により測定された回折データの解析法の開発
- 粉末X線回折ピーク形状における有限な結晶粒サイズの効果
- ロッキングカーブ測定を用いた多結晶薄膜における配向の解析
- ICDDが提供する Ludo Frevel 結晶学奨学金
- 最尤推定に基づく新しい粉末構造解析法