(ナノメートル領域の評価技術の最前線)(1)走査トンネル顕微鏡によるバリアハイトイメージング

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概要

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• 1998-12-10

著者

• 黒川 修

  京大工

• 黒川 修

  京大工メゾ材料研究センター

• 酒井 明

  京大工メゾ材料研究センター

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