Maximum Entropy Method:Extension of Structural Information to near 0.1nm for Materials Interface (〔1999年〕日本電子顕微鏡学会第44回シンポジウム論文集 新しい顕微鏡技術が切り開く生命と物質の世界,学会賞(瀬藤賞)受賞講演〔含 著者索引〕) -- (電顕による先端材料解析の最前線(高温超伝導と超巨大磁気伝導を中心として))

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概要

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• 1999-11-01

著者

• Kai J.j.

  Center Of Tem Dept.of Engineering And System Science National Tsing Hua University

• Chen Fu-rong

  Center Of Tem Dept.of Engineering And System Science National Tsing Hua University

• Kai J.J.

  Center of Electron Microscopy, Dept of Engineering and System Science, National Tsing Hua University

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