II-VI 族半導体発光デバイスのCLおよびTEM評価
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概要
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- 日本電子顕微鏡学会の論文
- 1999-11-01
著者
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石橋 晃
ソニー(株)中央研究所
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戸田 淳
ソニー(株)フロンティアサイエンス研究所 量子導波研究室
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富谷 茂隆
ソニー(株)テクニカルサポートセンター環境・解析技術部
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石橋 晃
ソニー(株)フロンティアサイエンス研究所 量子導波研究室
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