流動シミュレーションを用いた半導体封止工程における全線変形の予測

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概要

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• 2000-07-20

著者

• 増田 篤

  住ベテクノリサーチ(株) 分析評価部

• 高橋 上

  住ベテクノリサーチ(株) 分析評価部

• 高橋 上

  住ベテクノリサーチ (株)

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