NiFe/NiO交換結合膜の界面構造

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 1996-09-01

著者

• 前坂 明弘

  ソニー中研

• 岡部 明彦

  ソニー中研

• 森田 悦男

  ソニー中研

• 瀧口 雅史

  ソニー中央研究所

• 岡部 明彦

  ソニー

• 瀧口 雅史

  ソニー中研

関連論文

• スピンバルブ膜の熱劣化TEM解析
• 反強磁性Rh-Mn/強磁性積層膜の結合磁界
• スピンバルブ素子の動作線形性
• FeCoNi/Cu人工格子薄膜の耐熱性
• PtMnスピンバルブ膜の規則化熱処理過程のTEM解析
• CoPtCrバイアス膜のTEM解析
• PtMnを用いたスピンバルブ膜の熱劣化現象
• PtMnスピンバルブ膜の熱安定性
• スピンバルブGMR効果の熱劣化機構
• NiFe/NiO交換結合膜の界面構造
• 30a-APS-32 X線回折法によるCo/Pt,Co/Pd多層膜の界面構造の解析
• 反強時磁性材料のスピンバルブヘッドへの応用
• PtMn/CoFe膜のラフネス要因のTEM解析

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク