導電性光透過型探針を用いたトンネル電子発光の測定
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1997-12-05
著者
関連論文
- 30a-YF-6 非接触モードAFMによるSi(111)√×√-Ag構造の観察
- 30a-YF-4 GaAs(110)劈開表面の点欠陥の静電気力顕微鏡による観察
- 電子分光法による酸化シリコン測定時のダメージについて
- 深さ分解能関数を用いたSIMS深さ方向分布の評価
- Si(111)表面の分光電子観察
- 6p-B-10 Si(111)7×7再構成表面における非接触AFM測定での探針-試料間相互作用の研究
- 31a-WB-5 超高真空原子問力顕微鏡によるGaAs(110)劈開表面の格子像観察
- 深さ方向分析の最適化およびスパッタ深さの測定
- Logistic関数によるオージェデプスプロファイルの解析
- オージェ電子分光法(AES)による微小領域分析と顕微法
- 新シリーズ掲載開始にあたって
- 導電性光透過型探針を用いたトンネル電子発光の測定
- SC-9-9 電子材料系の界面キャラクタリゼーション例
- 深さ方向分析法の標準化
- 半導体材料の分析