In situ及びnon situ IRASで調べた電気二重層の構造

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 電気化学会の論文
• 1996-09-05

著者

• 伊藤 正時

  慶應義塾大学理工学部

• 伊藤 正時

  慶応義塾大学理工学部

• 新ヶ谷 義隆

  慶應義塾大学理工学部

関連論文

• 水および酸素が吸着した金属表面のX線回折による構造解析
• 電極表面における水の構造と電極電位の関係
• 表面X線回折法
• 金属と水溶液の界面はどうなっているか
• 金属電極表面における電解質イオンの水和構造
• 固液界面と固気界面の比較:CO/Pt(111)およびPt(100)
• In situ及びnon situ IRASで調べた電気二重層の構造
• 原子・分子を見る最新の技術 : 走査プローブ顕微鏡(原子・分子を見る)
• 24p-X-4 電極表面の動的挙動
• 電極表面の原子・分子の吸着とその挙動

スポンサーリンク