電子顕微鏡を用いたセラミックスの基礎研究-米国最新情報-
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本電子顕微鏡学会の論文
- 1995-07-31
著者
関連論文
- 21pGE-16 スピネル型LiNi_2O_4における電荷軌道整列相の第一原理計算(21pGE パイロクロア・フラストレーション系,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 電子顕微鏡を用いたセラミックスの基礎研究-米国最新情報-
- SiC-Cプラズマ焼結体中のカーボン
- 超硬合金中の炭化タングステン粒界構造
- Bi-Sr-Ca-Cu-O/Ag 複合体の微細構造と機械的性質(セラミックスの合成と評価)
- 2A31 TEM によるセラミックス破壊過程のその場観察
- 18MeV Fe^イオン照射によるBi_2Sr_2CaCu_2O_x超伝導体の特性と微構造の変化
- 微細構造の体系的・動的その場評価を可能とする新しい評価システム