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Nttフォトニクス研究所複合光デバイス研究部 | 論文
- 光スペクトル制御回路の設計と位相誤差補償による波長特性平坦化 (電子デバイス)
- 4-1 石英系プレーナ光波回路(PLC)のコヒーレント通信用デバイスへの応用(4.光デバイスの最前線,世界的な競争領域にある最先端デバイス技術)
- C-3-33 100GbE向けモノリシック集積光源高出力化のためのInPトランスバーサル・フィルタの透過特性(パッシブデバイス(1),C-3.光エレクトロニクス,一般セッション)
- 石英光導波路を用いた波長選択光スイッチ(超高速伝送・変復調・分散補償技術,超高速光信号処理技術,広帯域光増幅・WDM技術,受光デバイス,高光出力伝送技術,一般(ECOC報告))
- 石英光導波路を用いた波長選択光スイッチ(超高速伝送・変復調・分散補償技術,超高速光信号処理技術,広帯域光増幅・WDM技術,受光デバイス,高光出力伝送技術,一般(ECOC報告))
- 石英光導波路を用いた波長選択光スイッチ(超高速伝送・変復調・分散補償技術,超高速光信号処理技術,広帯域光増幅・WDM技術,受光デバイス,高光出力伝送技術,一般(ECOC報告))
- 光スペクトル制御回路の設計と位相誤差補償による波長特性平坦化(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
- 光スペクトル制御回路の設計と位相誤差補償による波長特性平坦化(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
- 光スペクトル制御回路の設計と位相誤差補償による波長特性平坦化(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
- 4.6μm帯差周波光源を用いた植物栽培時に発生するN_2Oのその場測定用ガス検出システム(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 4.6μm帯差周波光源を用いた植物栽培時に発生するN_2Oのその場測定用ガス検出システム(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 4.6μm帯差周波光源を用いた植物栽培時に発生するN_2Oのその場測定用ガス検出システム(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 4.6μm帯差周波光源を用いた植物栽培時に発生するN_2Oのその場測定用ガス検出システム(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 4.6μm帯差周波光源を用いた植物栽培時に発生するN_2Oのその場測定用ガス検出システム(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 高光損傷耐性位相変調器集積化PPLN導波路を用いた位相感応増幅器の低雑音動作(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
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