スポンサーリンク
Graduate School of Science and Technology, Chiba University, JAPAN | 論文
- Design of an Automatic Testing for FPGAs (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般)
- Design of an Automatic Testing for FPGAs (特集 VLSIプロセッサ及び新アーキテクスチャLSI技術、一般)
- Design of an Automatic Testing for FPGAs (特集:VLSIプロセッサ及び新アーキテクチャLSI技術,一般)
- D-10-3 An Autotest Design for FPGAs
- FPGAs Complete Fault Diagnosis Based on Binary Tree BIST Method