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Fei Company | 論文
- 原子分解能の環境制御S/TEMとその未来
- 次世代の電子光学系を有する収差補正電子顕微鏡の開発
- 触媒研究のための収差補正・環境制御型透過電子顕微鏡の開発
- Rapid Prototyping of Nanostructured Materials with a Focused Ion Beam
- The wrap-around problem and optimal padding in the exit wave reconstruction using HRTEM images
- 実環境下でのプロセス・特性評価のための収差補正・環境制御型透過電子顕微鏡とその応用